Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 1989

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Titel
Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Autor
Bhattacharya, Debashis; Hayes, John P.
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
1989
Zustand
New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
079239058X
ISBN-13
9780792390589
Artikelgewicht
1,2 Pfund

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