High Performance Memory Testing

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Sep 2002, 2002

1402072554 / 9781402072550

Serie: Buch 12 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. 266 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781402072550

Titel
High Performance Memory Testing
Autor
R. Dean Adams
Verlag
Springer US Sep 2002
Erscheinungsjahr
2002
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1402072554
ISBN-13
9781402072550
Artikelgewicht
568 Gramm
Abmessungen
241x160x19 mm
Serie
Buch 12 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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