High Performance Memory Testing

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Apr 2013, 2013

1475784740 / 9781475784749

Serie: Buch 12 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. 264 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781475784749

Titel
High Performance Memory Testing
Autor
R. Dean Adams
Verlag
Springer US Apr 2013
Erscheinungsjahr
2013
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1475784740
ISBN-13
9781475784749
Artikelgewicht
406 Gramm
Abmessungen
235x155x15 mm
Serie
Buch 12 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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