High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)
Adams, R. Dean
ISBN 10: 1402072554 ISBN 13: 9781402072550
Verlag: Springer, 2002
Gebraucht
Hardcover
Verkäufer
Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
AbeBooks-Verkäufer seit 15. April 2021
Dieser Artikel ist nicht mehr verfügbar.
Beschreibung
Beschreibung:
Like New. Ships from Multiple Locations. Bestandsnummer des Verkäufers ERICA77314020725546
Inhaltsangabe:
Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully.
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test.
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Bibliografische Details
Titel: High Performance Memory Testing: Design ...
Verlag: Springer
Erscheinungsdatum: 2002
Einband: Hardcover
Zustand: Like New
Art des Buches: book
Beste Suchergebnisse bei AbeBooks
Beispielbild für diese ISBN
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing, 22A)
Anbieter: BennettBooksLtd, San Diego, NV, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title! Bestandsnummer des Verkäufers Q-1402072554
Neu kaufen
EUR 116,89
EUR 5,93 shipping
Versand innerhalb von USA
Versand innerhalb von USA
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: SatelliteBooks, Burlington, VT, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: New. Hardcover, /no DJunused, minor shelf-wearFree of any markings and no writing. For Additional Information or pictures, Please Inquire. Bestandsnummer des Verkäufers SKU002924
Neu kaufen
EUR 122,10
EUR 4,69 shipping
Versand innerhalb von USA
Versand innerhalb von USA
Anzahl: 1 verfügbar
Foto des Verkäufers
High Performance Memory Testing
Print-on-DemandAnbieter: moluna, Greven, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Gebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were. Bestandsnummer des Verkäufers 4094950
Neu kaufen
EUR 136,16
EUR 48,99 shipping
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
High Performance Memory Testing | Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
Print-on-DemandAnbieter: preigu, Osnabrück, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. High Performance Memory Testing | Design Principles, Fault Modeling and Self-Test | R. Dean Adams | Buch | xiv | Englisch | 2002 | Copernicus | EAN 9781402072550 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. Bestandsnummer des Verkäufers 102592174
Neu kaufen
EUR 141,30
EUR 70,00 shipping
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 5 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing, 22A)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Bestandsnummer des Verkäufers ABLIING23Mar2411530144582
Neu kaufen
EUR 156,81
EUR 3,40 shipping
Versand innerhalb von USA
Versand innerhalb von USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
High Performance Memory Testing
Print-on-DemandAnbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. 266 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9781402072550
Neu kaufen
EUR 160,49
EUR 23,00 shipping
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 2 verfügbar
Foto des Verkäufers
High Performance Memory Testing
Verlag:
Springer US, Springer US Sep 2002, 2002
ISBN 10: 1402072554
ISBN 13: 9781402072550
Neu
Hardcover
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully.High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test.High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 266 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9781402072550
Neu kaufen
EUR 160,49
EUR 60,00 shipping
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 1 verfügbar
Foto des Verkäufers
High Performance Memory Testing : Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. Bestandsnummer des Verkäufers 9781402072550
Neu kaufen
EUR 166,62
EUR 62,84 shipping
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing, 22A)
Anbieter: Toscana Books, AUSTIN, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks. Bestandsnummer des Verkäufers Scanned1402072554
Neu kaufen
EUR 257,51
EUR 3,67 shipping
Versand innerhalb von USA
Versand innerhalb von USA
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: Blue Lantern Media, Bloomfield Hills, MI, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: New. SIGNED BY AUTHOR. Springer-Verlag New York Inc., United States, 2002. Hardcover. Condition: New. 2003 ed. Language: English. Seller Inventory # 0000019. Signed by Author(s). Bestandsnummer des Verkäufers 0000020
Neu kaufen
EUR 259,97
EUR 2,56 shipping
Versand innerhalb von USA
Versand innerhalb von USA
Anzahl: 1 verfügbar