High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing)
Adams, R. Dean Dean
ISBN 10: 1475784740 ISBN 13: 9781475784749
Verlag: Springer, 2013
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Inhaltsangabe:
Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully.
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test.
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.
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Bibliografische Details
Titel: High Performance Memory Testing: Design ...
Verlag: Springer
Erscheinungsdatum: 2013
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High Performance Memory Testing
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Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were. Bestandsnummer des Verkäufers 4208178
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High Performance Memory Testing | Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
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Taschenbuch. Zustand: Neu. High Performance Memory Testing | Design Principles, Fault Modeling and Self-Test | R. Dean Adams | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781475784749 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Bestandsnummer des Verkäufers 105639479
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High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (Frontiers in Electronic Testing (22A))
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