High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications

Jon Orloff

ISBN 10: 030647350X ISBN 13: 9780306473500
Verlag: Springer US, Chapman And Hall/CRC Okt 2002, 2002
Sprache: Englisch
Neu Zustand: Neu Hardcover

Verkäufer BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland

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