High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Jul 2017, 2017

9811010722 / 9789811010729

Serie: Buch 2 von 13 - Computer Architecture and Design Methodologies

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 220 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9789811010729

Titel
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Autor
Zheng Wang
Verlag
Springer, Springer Jul 2017
Erscheinungsjahr
2017
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
9811010722
ISBN-13
9789811010729
Artikelgewicht
500 Gramm
Abmessungen
241x160x18 mm
Serie
Buch 2 von 13: Computer Architecture and Design Methodologies

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