Image-Based Fractal Description of Microstructures

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US, Springer US Jul 2003, 2003

1402075073 / 9781402075070

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal methods have thus far shown great potential in engineering applications in quantitative microscopic analysis of materials using commercial microscopes.This book attempts to introduce the fundamentals and the basis methods of fractal description of microstructures in combination with digital imaging and computer technologies. Basic concepts are given in the form of mathematical expressions. Detailed algorithms in practical applications are also provided. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book.Image-Based Fractal Description of Microstructures provides a comprehensive approach to materials characterization by fractal from theory to application.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 292 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781402075070

Titel
Image-Based Fractal Description of Microstructures
Autor
J. M. Li
Verlag
Springer US, Springer US Jul 2003
Veröffentlichungsjahr
2003
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1402075073
ISBN-13
9781402075070
Artikelgewicht
606 Gramm
Abmessungen
241x160x21 mm

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