Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2008

0792359402 / 9780792359401

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The Advanced Study Institute provided an opportunity for researchers in universities, industry and National and International Laboratories, from the disciplines ofmaterials science, physics, chemistry and engineering to meet together in an assessment of the impact of electron and scanning probe microscopy on advanced material research. Since these researchers have traditionally relied upon different approaches, due to their different scientific background, to advanced materials problem solving, presentations and discussion within the Institute sessions were initially devoted to developing a set ofmutually understood basic concepts, inherently related to different techniques ofcharacterization by microscopy and spectroscopy. Particular importance was placed on Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS), Scanning Probe Microscopy (SPM), High Resolution Transmission and Scanning Electron Microscopy (HRTEM, HRSTEM) and Environmental Scanning Electron Microscopy (ESEM). It was recognized that the electronic structure derived directly from EELS analysis as well as from atomic positions in HRTEM or High Angle Annular Dark Field STEM can be used to understand the macroscopic behaviour of materials. The emphasis, however, was upon the analysis of the electronic band structure of grain boundaries, fundamental for the understanding of macroscopic quantities such as strength, cohesion, plasticity, etc.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780792359401

Titel
Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research
Autor
David G. Rickerby
Verlag
Springer
Veröffentlichungsjahr
2008
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0792359402
ISBN-13
9780792359401
Artikelgewicht
815 Gramm
Abmessungen
240x160x28 mm

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