A practical guide to the effects of radiation on semiconductor components of electronic systems, and techniques for the designing, laying out, and testing of hardened integrated circuits

This book teaches the fundamentals of radiation environments and their effects on electronic components, as well as how to design, lay out, and test cost-effective hardened semiconductor chips not only for today’s space systems but for commercial terrestrial applications as well. It provides a historical perspective, the fundamental science of radiation, and the basics of semiconductors, as well as radiation-induced failure mechanisms in semiconductor chips.

Integrated Circuits Design for Radiation Environments starts by introducing readers to semiconductors and radiation environments (including space, atmospheric, and terrestrial environments) followed by circuit design and layout. The book introduces radiation effects phenomena including single-event effects, total ionizing dose damage and displacement damage) and shows how technological solutions can address both phenomena.

Describes the fundamentals of radiation environments and their effects on electronic components
Teaches readers how to design, lay out and test cost-effective hardened semiconductor chips for space systems and commercial terrestrial applications
Covers natural and man-made radiation environments, space systems and commercial terrestrial applications
Provides up-to-date coverage of state-of-the-art of radiation hardening technology in one concise volume
Includes questions and answers for the reader to test their knowledge

Integrated Circuits Design for Radiation Environments will appeal to researchers and product developers in the semiconductor, space, and defense industries, as well as electronic engineers in the medical field. The book is also helpful for system, layout, process, device, reliability, applications, ESD, latchup and circuit design semiconductor engineers, along with anyone involved in micro-electronics used in harsh environments.

�ber die Autorin bzw. den Autor

STEPHEN J. GAUL is a Senior Principal Engineer at Renesas Electronics Americas, Inc., Florida, USA. He has worked in the semiconductor/integrated circuit field for over 35 years and has authored many papers and over 35 patents, many specific to radiation-hard/radiation-tolerant techniques.

NICOLAAS VAN VONNO is currently a Principal Engineer at Renesas Electronics Americas, Inc., Florida, USA, and has been an independent consultant in the radiation effects field. He has been Guest Editor, Session Chairman, and Short Course Chairman for the IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC).

STEVEN H. VOLDMAN, Ph.D., is a Consultant on ESD and latchup, as well as invention and patenting. He is a Fellow of the Electrical and Electronics Engineers (IEEE) and author of over 10 books and 262 patents.

WESLEY H. MORRIS is President of Silicon-X (Technology focus), hardening CMOS devices to radiation and extreme temperatures. His career experience includes development of RH CMOS devices with SOS (RCA) and SOI (Harris), the first to prove bulk CMOS devices can be made latchup immune to extreme SEE radiation and operate reliably at high temperatures (250C). Morris is an author/inventor with multiple papers and patents related to RH and HT topics.

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Sie haben das Recht, binnen vierzehn Tagen ohne Angabe von Gr�nden diesen Vertrag zu widerrufen.

Die Widerrufsfrist betr�gt vierzehn Tage ab dem Tag, an dem Sie oder ein von Ihnen benannter Dritter, der nicht der Bef�rderer ist, die letzte Ware oder die letzte Teilsendung bzw. das letzte St�ck in Besitz genommen haben bzw. hat.

Um Ihr Widerrufsrecht auszu�ben, m�ssen Sie uns, Books Puddle, 244 Madison Ave, Suite # 405, 10016, New York, New York, U.S.A., +1 7183015977, mittels einer eindeutigen Erkl�rung (z.B. ein mit der Post versandter Brief, Telefax oder E-Mail) �ber Ihren Entschluss, diesen Vertrag zu widerrufen, informieren. Sie k�nnen daf�r das beigef�gte Muster-Widerrufsformular verwenden, das jedoch nicht vorgeschrieben ist. Sie k�nnen auch eine andere eindeutige Erkl�rung auf der Webseite "Meine Bestellungen" in Ihrem "Nutzerkonto" elektronisch ausf�llen und �bermitteln. Machen Sie von dieser M�glichkeit Gebrauch, so werden wir Ihnen unverz�glich (z. B. per E-Mail) eine Best�tigung �ber den Eingang eines solchen Widerrufs �bermitteln. Zur Wahrung der Widerrufsfrist reicht es aus, dass Sie die Mitteilung �ber die Aus�bung des Widerrufsrechts vor Ablauf der Widerrufsfrist absenden.

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Wenn Sie diesen Vertrag widerrufen, haben wir Ihnen alle Zahlungen, die wir von Ihnen erhalten haben, einschlie�lich der Lieferkosten (mit Ausnahme der zus�tzlichen Kosten, die sich daraus ergeben, dass Sie eine andere Art der Lieferung als die von uns angebotene, g�nstigste Standardlieferung gew�hlt haben), unverz�glich und sp�testens binnen vierzehn Tagen ab dem Tag zur�ckzuzahlen, an dem die Mitteilung �ber Ihren Widerruf dieses Vertrags bei uns eingegangen ist. F�r diese R�ckzahlung verwenden wir dasselbe Zahlungsmittel, das Sie bei der urspr�nglichen Transaktion eingesetzt haben, es sei denn, mit Ihnen wurde ausdr�cklich etwas anderes vereinbart; in keinem Fall werden Ihnen wegen dieser R�ckzahlung Entgelte berechnet. Wir k�nnen die R�ckzahlung verweigern, bis wir die Waren wieder zur�ckerhalten haben oder bis Sie den Nachweis erbracht haben, dass Sie die Waren zur�ckgesandt haben, je nachdem, welches der fr�here Zeitpunkt ist. Sie haben die Waren unverz�glich und in jedem Fall sp�testens binnen vierzehn Tagen ab dem Tag, an dem Sie uns �ber den Widerruf dieses Vertrags unterrichten, an Books Puddle, 244 Madison Ave, Suite # 405, 10016, New York, New York, U.S.A., +1 7183015977, zur�ckzusenden oder zu �bergeben. Die Frist ist gewahrt, wenn Sie die Waren vor Ablauf der Frist von vierzehn Tagen absenden.

Sie tragen die unmittelbaren Kosten der R�cksendung der Waren. Sie m�ssen f�r einen etwaigen Wertverlust der Waren nur aufkommen, wenn dieser Wertverlust auf einen zur Pr�fung der Beschaffenheit, Eigenschaften und Funktionsweise der Waren nicht notwendigen Umgang mit ihnen zur�ckzuf�hren ist.

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