Introduction to Focused Ion Beams

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Humana Nov 2004, 2004

0387231161 / 9780387231167

Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. The first portion of this book introduces the basics of FIB instrumentation, milling, and deposition capabilities. The chapter dedicated to ion-solid interactions is presented so that the FIB user can understand which parameters will influence FIB milling behavior. The remainder of the book focuses on how to prepare and analyze samples using FIB and related tools, and presents specific applications and techniques of the uses of FIB milling, deposition, and dual platform techniques. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and Dual platform instrumentsSpringer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 376 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780387231167

Titel
Introduction to Focused Ion Beams
Autor
Lucille A. Giannuzzi
Verlag
Springer, Humana Nov 2004
Erscheinungsjahr
2004
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0387231161
ISBN-13
9780387231167
Artikelgewicht
729 Gramm
Abmessungen
241x160x26 mm

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