An Introduction to Logic Circuit Testing

Sprache: Englisch

Verlag: Springer International Publishing Okt 2008, 2008

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -An Introduction to Logic Circuit Testing provides a detailed coverage of techniques for test generation and testable design of digital electronic circuits/systems. The material covered in the book should be sufficient for a course, or part of a course, in digital circuit testing for senior-level undergraduate and first-year graduate students in Electrical Engineering and Computer Science. The book will also be a valuable resource for engineers working in the industry. This book has four chapters. Chapter 1 deals with various types of faults that may occur in very large scale integration (VLSI)-based digital circuits. Chapter 2 introduces the major concepts of all test generation techniques such as redundancy, fault coverage, sensitization, and backtracking. Chapter 3 introduces the key concepts of testability, followed by some ad hoc design-for-testability rules that can be used to enhance testability of combinational circuits. Chapter 4 deals with test generation and response evaluation techniques used in BIST (built-in self-test) schemes for VLSI chips.Table of Contents: Introduction / Fault Detection in Logic Circuits / Design for Testability / Built-in Self-Test / References 112 pp. Englisch.…

Titel
An Introduction to Logic Circuit Testing
Autor
Parag K. Lala
Verlag
Springer International Publishing Okt 2008
Erscheinungsjahr
2008
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3031797841
ISBN-13
9783031797842
Artikelgewicht
226 Gramm
Abmessungen
235x191x7 mm

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