Introduction to Many-Facet Rasch Measurement : Analyzing and Evaluating Rater-Mediated Assessments

Eckes, Thomas

ISBN 10: 3631656157 ISBN 13: 9783631656150
Verlag: Peter Lang GmbH, Internationaler Verlag der Wissenschaften, 2015
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Wie neu Hardcover

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