Investigation of Radiation Effects on Semiconductor Devices and Integrated Circuits; DNA-TR-88-2

Verlag: Northrop Corporation, Palos Verdes Peninsula, CA, 1988

Verkäuferin bzw. Verkäufer von Kulturgütern

Anbieter: Ground Zero Books, Ltd., Silver Spring, MD, USAGround Zero Books, Ltd.

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 14. August 1998

Artikel dieses Verkäufers ansehen

Zustand: Gebraucht - Befriedigend

EUR 44,18

EUR 4,29 Versand 
Versand innerhalb von USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb

Artikelbeschreibung vom Verkäufer

This was prepared for the Director, Defense Nuclear Agency under Contract NO. DNA 001-84-C-0196. It was approved for public release. DD Form 1473 lists the page count as 162. Illustrations. References. Cover has some wear. Some illustrations appear degraded from what would have appeared in the original publication. Results of a study of radiation effects on electronic materials, devices, and integrated circuits are presented in this report. Emphasis was placed on determining the underlying mechanisms responsible for observed radiation effects with a view toward gaining understanding of value in the development of radiation-hardened devices. Measurements and analyses were performed of the effects of single energetic neutrons and protons on silicon integrated circuits. This is a detailed description is given of the effects of radiation-induced displacement damage on device depletion regions. Single event upset studies included charge collection and transient current measurements on Si and GaAs devices following a single alpha-particle strike. The angular dependence of charge funneling was also investigated. The mechanisms of ionizing radiation effects on Si MOS devices were explored in detail using the thermally stimulated current technique and other measurement approaches. Data obtained by several techniques show that use of the radiation-induced shift of the capacitance-voltage curve at midgap is not generally valid for determining oxide trapped charge.

Bestandsnummer des Verkäufers 76165

Bibliografische Details

Titel
Investigation of Radiation Effects on Semiconductor Devices and Integrated Circuits; DNA-TR-88-2
Autor
Shanfield, Zef and, Srour, Joseph R., Moriwaki, Melvin and, Kerry, S. and Hartmann, Robert
Verlag
Northrop Corporation, Palos Verdes Peninsula, CA
Veröffentlichungsjahr
1988
Zustand
Good
Einband
Staplebound
Ausgabe
DTIC reprint.

Ground Zero Books, Ltd.

Silver Spring, MD, USA

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 14. August 1998

Versandkosten innerhalb von USA

Artikel5 bis 20 Werktage3 bis 6 Werktage
Erster ArtikelEUR 4,29EUR 6,43
Die Versandzeiten werden von den Verkäuferinnen und Verkäufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, können Verzögerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Gebühren sind von der Käuferin bzw. dem Käufer zu tragen. Die Verkäuferin bzw. der Verkäufer kann Sie bezüglich zusätzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen möglichen Anstieg der Versandkosten für Ihre Artikel auszugleichen.

Zahlungsarten

VisaMastercardAmerican ExpressCarte BleueApple PayGoogle Pay
PayPal
Rechnung
Vorauskasse
Zahlungsanweisung

Shop-Beschreibung

Founded and operated by trained historians, Ground Zero Books, Ltd., serves the book collector, the scholar, and institutions. We focus on the individual, and pride ourselves on our personal service. Please contact us with your wants, as we have many books not yet listed in our database.

Spezialisierung

Military History, Nuclear, American Revolution, Military Medicine, Vietnam, World War II, British Empire, World War I, Unit Histories, Civil War

Unternehmensdaten der Verkäuferin bzw. des Verkäufers

Ground Zero Books, Ltd.

9033 Georgia Avenue
Silver Spring, MD USA 20910-2254