ISBN 10: 047184893X / ISBN 13: 9780471848936
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Beschreibung:

This Book is in Good Condition. Clean Copy With Light Amount of Wear. 100% Guaranteed. Summary: Historical Perspective (H. Hughes). Electron-Hole Generation, Transport, and Trapping in SiO2 (F. McLean, et al.). Radiation-Induced Interface Traps (P. Winokur). Radiation Effects on MOS Devices and Circuits (P. Dressendorfer). Radiation-Hardening Technology (P. Dressendorfer). Process-Induced Radiation Effects (T. Ma). Source Considerations and Testing Techniques (K. Kerris). Transient-Ionization and Single-Event Phenomena (S. Kerns). Index. Buchnummer des Verkäufers

Über diesen Titel:

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Inhaltsangabe: The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process-induced radiation effects in the fabrication of high-density circuits. Reviews the history of radiation-hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation-hardness research.

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Bibliografische Details

Zustand: Used

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1.

Verlag: Wiley-Interscience
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
Gebraucht Hardcover Anzahl: 1
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Salish Sea Books
(Bellingham, WA, USA)
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Buchbeschreibung Wiley-Interscience. Hardcover. Buchzustand: Very Good. 047184893X Very Good in a Very Good dust jacket; Hardcover; Dust jacket is clean and intact with no tears, and has not been price-clipped (Now fitted with a new, Brodart jacket protector); Light wear to the boards; The endpapers and all text pages are clean and unmarked; The binding is excellent with a straight spine; This book will be stored and delivered in a sturdy cardboard box with foam padding; Medium Format (8.5" - 9.75" tall); White covers with title in black lettering; 1989, Wiley-Interscience Publishing; 608 pages; "Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits," by T. P. Ma & Paul V. Dressendorfer. Buchnummer des Verkäufers SKU-U20RD03710196

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2.

Verlag: Wiley-Interscience
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
Gebraucht Hardcover Anzahl: 1
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Books Squared
(Dallas, TX, USA)
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Buchbeschreibung Wiley-Interscience. Hardcover. Buchzustand: Good. Only lightly used. Book has minimal wear to cover and binding. A few pages may have small creases and minimal underlining. Buchnummer des Verkäufers G047184893XI3N00

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3.

Verlag: Wiley-Interscience
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
Gebraucht Hardcover Anzahl: 1
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Salish Sea Books
(Bellingham, WA, USA)
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Buchbeschreibung Wiley-Interscience. Hardcover. Buchzustand: Very Good. 047184893X Very Good in a Very Good dust jacket; Hardcover; Dust jacket is clean and intact with no tears, and has not been price-clipped (Now fitted with a new, Brodart jacket protector); Light wear to the boards; The textblock edges are unblemished; The endpapers and all text pages are clean and unmarked; The binding is excellent with a straight spine; This book will be stored and delivered in a sturdy cardboard box with foam padding; Medium Format (8.5" - 9.75" tall); Tan dust jacket with title in red lettering; 1989, Wiley-Interscience Publishing; 608 pages; "Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits," by T. P. Ma & Paul V. Dressendorfer. Buchnummer des Verkäufers SKU-U30JG05203017

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4.

T.p. Ma
Verlag: JOHN WILEY & SONS, United States (1989)
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
Gebraucht Hardcover Anzahl: 1
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Powell's Books
(Portland, OR, USA)
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Buchbeschreibung JOHN WILEY & SONS, United States, 1989. Hardcover. Buchzustand: Good. Zustand des Schutzumschlags: Good. HARDCOVER Legendary independent bookstore online since 1994. Reliable customer service and no-hassle return policy. New Arrivals. Book: USED, Good. Dust Jacket: Good. Bookseller Inventory # 01978047184893605. Buchnummer des Verkäufers 01978047184893605

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5.

Verlag: Wiley-Interscience (2017)
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
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Murray Media
(North Miami Beach, FL, USA)
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Buchbeschreibung Wiley-Interscience, 2017. Hardcover. Buchzustand: Very Good. This item is printed on demand. Buchnummer des Verkäufers P02047184893X

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6.

Verlag: Wiley-Interscience (2017)
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
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Murray Media
(North Miami Beach, FL, USA)
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Buchbeschreibung Wiley-Interscience, 2017. Hardcover. Buchzustand: New. This item is printed on demand. Buchnummer des Verkäufers P11047184893X

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7.

Ma, T. P.
Verlag: Wileyand#8211;Blackwell (1989)
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
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Books2Anywhere
(Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich)
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Buchbeschreibung Wileyand#8211;Blackwell, 1989. HRD. Buchzustand: New. New Book. Shipped from UK in 4 to 14 days. Established seller since 2000. Buchnummer des Verkäufers FW-9780471848936

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8.

Verlag: John Wiley Sons Inc, United States (1989)
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
Neu Hardcover Anzahl: 1
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The Book Depository
(London, Vereinigtes Königreich)
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Buchbeschreibung John Wiley Sons Inc, United States, 1989. Hardback. Buchzustand: New. Language: English . Brand New Book. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Reviews the history of radiation--hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation--hardness research. Buchnummer des Verkäufers AAH9780471848936

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9.

Verlag: John Wiley Sons Inc, United States (1989)
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
Neu Hardcover Anzahl: 1
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The Book Depository US
(London, Vereinigtes Königreich)
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Buchbeschreibung John Wiley Sons Inc, United States, 1989. Hardback. Buchzustand: New. Language: English . Brand New Book. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Reviews the history of radiation--hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation--hardness research. Buchnummer des Verkäufers AAH9780471848936

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10.

ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
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BWB
(Valley Stream, NY, USA)
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