Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2005

3540253033 / 9783540253037

Serie: Buch 3 von 233 - Springer Series in Materials Science

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Titel
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Autor
Rein, Stefan
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2005
Zustand
New
Einband
hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540253033
ISBN-13
9783540253037
Artikelgewicht
37 Unzen
Abmessungen
6x1x9
Serie
Buch 3 von 233: Springer Series in Materials Science

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