Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)

Breitenstein, Otwin; Warta, Wilhelm; Schubert, Martin C.

ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Verlag: Springer, 2019
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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