Logic Testing and Design for Testability

Fujiwara, Hideo

ISBN 10: 0262561999 ISBN 13: 9780262561990

Verlag: Mit Pr, 1985

Sprache: Englisch

Zustand: Neu Hardcover

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Bibliografische Details

Titel: Logic Testing and Design for Testability
Verlag: Mit Pr
Erscheinungsjahr: 1985
Sprache: Englisch
ISBN-10: 0262561999
ISBN-13: 9780262561990
Einband: Hardcover
Zustand: Brand New

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

�ber die Autorin bzw. den Autor

Hideo Fujiwara is an associate professor in the Department of Electronics and Communication, Meiji University.

��ber diesen Titel� kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

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