Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization

Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman

ISBN 10: 3030261719 ISBN 13: 9783030261719
Verlag: Springer, 2019
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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