Machine Vision Inspection Systems: Machine Learning Based Approaches (Machine Vision Inspection Systems, Volume 2)

Buch 2 von 2: Machine Vision Inspection Systems

Malarvel, Muthukumaran (Editor) / Nayak, Soumya Ranjan (Editor) / Pattnaik, Prasant Kumar (Editor) / Panda, Surya Narayan (Editor)

ISBN 10: 1119786096 ISBN 13: 9781119786092
Verlag: Wiley-Scrivener, 2021
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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