Titel: Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry: 30 (Radon Series on Computational and Applied Mathematics, 30)
Verlag: De Gruyter
Erscheinungsjahr: 2024
Sprache: Englisch
ISBN-10: 3111336832
ISBN-13: 9783111336831
Einband: Hardcover
Zustand: New

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

Microlocal Analysis has proven to be a powerful tool for analyzing and solving inverse problems; including answering questions about stability, uniqueness, recovery of singularities, etc. This volume, presents several studies on microlocal methods in problems in tomography, integral geometry, geodesic transforms, travel time tomography, thermoacoustic tomography, Compton CT, cosmology, nonlinear inverse problems, and others.

�ber die Autorin bzw. den Autor

Todd Quinto, Tufts University; Plamen Stefanov, Purdue University; Gunther Uhlmann, University of Washington, USA.

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