RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors

Sprache: Englisch

Verlag: SciTech Publishing Inc, US, 2010

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This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.

Bestandsnummer des Verkäufers LU-9781891121890

Titel
RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Autor
Jianjun Gao
Verlag
SciTech Publishing Inc, US
Erscheinungsjahr
2010
Zustand
New
Einband
Hardback
Sprache
Englisch
ISBN-10
1891121898
ISBN-13
9781891121890

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