Mismatch and Noise in Modern IC Processes

Sprache: Englisch

Verlag: Springer International Publishing Jan 2009, 2009

3031797906 / 9783031797903

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

Verkäufer:in bei AbeBooks seit 11. Januar 2012

Softcover

Zustand: Neu

EUR 35,30

EUR 23,00 Versand 
Versand von Deutschland nach USA

Anzahl: 2 verfügbar

In den Warenkorb
30 Tage kostenlose Rückgabe

Artikelbeschreibung des Verkäufers

This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Component variability, mismatch, and various noise effects are major contributors to design limitations in most modern IC processes. Mismatch and Noise in Modern IC Processes examines these related effects and how they affect the building block circuits of modern integrated circuits, from the perspective of a circuit designer.Variability usually refers to a large scale variation that can occur on a wafer to wafer and lot to lot basis, and over long distances on a wafer. This phenomenon is well understood and the effects of variability are included in most integrated circuit design with the use of corner or statistical component models. Mismatch, which is the emphasis of section I of the book, is a local level of variability that leaves the characteristics of adjacent transistors unmatched. This is of particular concern in certain analog and memory systems, but also has an effect on digital logic schemes, where uncertainty is introduced into delay times, which can reduce margins and introduce 'race' conditions. Noise is a dynamic effect that causes a local mismatch or variability that can vary during operation of a circuit, and is considered in section II. Noise can be the result of atomic effects in devices or circuit interactions, and both of these are discussed in terms of analog and digital circuitry.Table of Contents: Part I: Mismatch / Introduction / Variability and Mismatch in Digital Systems / Variability and Mismatch in Analog Systems I / Variability and Mismatch in Analog Systems II / Lifetime-Induced Variability / Mismatch in Nonconventional Processes / Mismatch Correction Circuits / Part II: Noise / Component and Digital Circuit Noise / Noise Effects in Digital Systems / Noise Effects in Analog Systems / Circuit Design to Minimize Noise Effects / Noise Considerations in SOI 152 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783031797903

Titel
Mismatch and Noise in Modern IC Processes
Autor
Andrew Marshall
Verlag
Springer International Publishing Jan 2009
Erscheinungsjahr
2009
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3031797906
ISBN-13
9783031797903
Artikelgewicht
298 Gramm
Abmessungen
235x191x9 mm

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Deutschland

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

Verkäufer:in bei AbeBooks seit 11. Januar 2012

Versandkosten von Deutschland nach USA

Artikel5 bis 15 Werktage5 bis 15 Werktage
Erster ArtikelEUR 23,00EUR 23,00
Die Versandzeiten werden von den Verkäuferinnen und Verkäufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, können Verzögerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Gebühren sind von der Käuferin bzw. dem Käufer zu tragen. Die Verkäuferin bzw. der Verkäufer kann Sie bezüglich zusätzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen möglichen Anstieg der Versandkosten für Ihre Artikel auszugleichen.

Zahlungsarten

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Banküberweisung
  • PayPal
  • Vorauskasse

Unternehmensdaten der Verkäuferin bzw. des Verkäufers

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Deutschland