ISBN 10: 146142190X / ISBN 13: 9781461421900
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Beschreibung:

Brand New, Unread Copy in Perfect Condition. A+ Customer Service! Summary: This book presents advances in nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes, along with superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. Buchnummer des Verkäufers

Über diesen Titel:

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Inhaltsangabe:

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.

Über den Autor:

Thomas Vogt is Director of the NanoCenter Educational Foundation and Distinguished Professor of Chemistry & Biochemistry at the University of South Carolina.

Wolfgang Dahmen is a professor at RWTH Aachen.

Peter G. Binev is a Professor of Mathematics at the University of South Carolina.



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Bibliografische Details




Zustand: New

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1.

Thomas Vogt (Editor), Wolfgang Dahmen (Editor), Peter Binev (Editor)
Verlag: Springer (2012)
ISBN 10: 146142190X ISBN 13: 9781461421900
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Verlag: Springer (2012)
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4.

Verlag: Springer-Verlag New York Inc., United States (2012)
ISBN 10: 146142190X ISBN 13: 9781461421900
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Buchbeschreibung Springer-Verlag New York Inc., United States, 2012. Hardback. Buchzustand: New. 2012 ed.. 234 x 157 mm. Language: English . Brand New Book. Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. Buchnummer des Verkäufers SPR9781461421900

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The Book Depository
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Buchbeschreibung Springer-Verlag New York Inc., United States, 2012. Hardback. Buchzustand: New. 2012 ed.. 234 x 157 mm. Language: English . Brand New Book. Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. Buchnummer des Verkäufers SPR9781461421900

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THOMAS VOGT
Verlag: Springer (2012)
ISBN 10: 146142190X ISBN 13: 9781461421900
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Herb Tandree Philosophy Books
(Stroud, GLOS, Vereinigtes Königreich)
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Buchbeschreibung Springer, 2012. Hardback. Buchzustand: NEW. 9781461421900 This listing is a new book, a title currently in-print which we order directly and immediately from the publisher. Buchnummer des Verkäufers HTANDREE0303175

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7.

Vogt, Thomas (EDT)/ Dahmen, Wolfgang (EDT)/ Binev, Peter (EDT)
Verlag: Springer-Verlag New York Inc. 2012-03-02, New York, NY (2012)
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8.

Thomas Vogt
Verlag: Springer-Verlag New York Inc. (2012)
ISBN 10: 146142190X ISBN 13: 9781461421900
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(Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich)
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Thomas Vogt
Verlag: Springer-Verlag New York Inc. (2012)
ISBN 10: 146142190X ISBN 13: 9781461421900
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Buchbeschreibung Springer-Verlag New York Inc., 2012. HRD. Buchzustand: New. New Book. Shipped from US within 10 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Buchnummer des Verkäufers I1-9781461421900

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Thomas Vogt
Verlag: Springer-Verlag Gmbh Mrz 2012 (2012)
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(Bergisch Gladbach, Deutschland)
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Buchbeschreibung Springer-Verlag Gmbh Mrz 2012, 2012. Buch. Buchzustand: Neu. 247x161x17 mm. Neuware - Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. 182 pp. Englisch. Buchnummer des Verkäufers 9781461421900

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