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Brand New, Unread Copy in Perfect Condition. A+ Customer Service! Summary: This book presents advances in nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes, along with superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. Buchnummer des Verkäufers

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Inhaltsangabe:

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.

Über den Autor:

Thomas Vogt is Director of the NanoCenter Educational Foundation and Distinguished Professor of Chemistry & Biochemistry at the University of South Carolina.

Wolfgang Dahmen is a professor at RWTH Aachen.

Peter G. Binev is a Professor of Mathematics at the University of South Carolina.



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ISBN 10: 146142190X ISBN 13: 9781461421900
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Buchbeschreibung Springer-Verlag New York Inc., United States, 2012. Hardback. Buchzustand: New. 2012 ed.. 234 x 157 mm. Language: English . Brand New Book. Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. Buchnummer des Verkäufers LIB9781461421900

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Buchbeschreibung Springer-Verlag New York Inc., United States, 2012. Hardback. Buchzustand: New. 2012 ed.. 234 x 157 mm. Language: English . Brand New Book. Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. Buchnummer des Verkäufers LIB9781461421900

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Vogt, Thomas (Editor)/ Dahmen, Wolfgang (Editor)/ Binev, Peter G. (Editor)
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Buchbeschreibung Springer Verlag, 2012. Hardcover. Buchzustand: Brand New. 2012 edition. 280 pages. 9.25x6.00x0.50 inches. In Stock. Buchnummer des Verkäufers __146142190X

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THOMAS VOGT
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Thomas Vogt
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Thomas Vogt
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Thomas Vogt
Verlag: Springer New York 2012-03-02, New York |London (2012)
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