Nano-Transistor Scaling and their Characteristics using Monte Carlo

Sprache: Englisch

Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing Nov 2018, 2018

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Chapter 1 gives detail of numerical results for 25nm SiNANO scale MOSFETs ((Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) using self-consistent ensemble Monte Carlo (MC) device simulation. The simulated results are electron velocity, sheet density, drain current with the shortening of gate length in the channel area, and ID - VG characteristics. Chapter 2 gives an overview on scaling of Si and In0.3Ga0.7As MOSFETs from a gate length of 25 nm to gate lengths of 20, 15, 10, and, ultimately, 5 nm, is carried out using ensemble Monte Carlo (MC) device simulations with quantum corrections. Chapter 3 includes a description of Electron mobility as a function of ionised impurity concentration, is calculated in bulk GaAs using ensemble Monte Carlo simulations. The simulations include Fermi-Dirac statistics with self-consistently calculated Fermi energy and electron temperature. Chapter 4 gives an explanation on investigation about the effect of electron confinement in nanoscaled transistor channels of 25 nm surface channel Si and 32 nm SOI (Silicon on Insulator) and 15 nm IF (Implant Free) III-V MOSFETs using a self-consistent solution of 1- D Poisson - Schrödinger equation.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 60 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9786139947478

Titel
Nano-Transistor Scaling and their Characteristics using Monte Carlo
Autor
Islam Aynul
Verlag
LAP LAMBERT Academic Publishing Nov 2018
Erscheinungsjahr
2018
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
6139947472
ISBN-13
9786139947478
Artikelgewicht
107 Gramm
Abmessungen
220x150x5 mm

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