Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Sprache: Englisch

Verlag: ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016

1848219369 / 9781848219366

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This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.

Bestandsnummer des Verkäufers LU-9781848219366

Titel
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Autor
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Verlag
ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB
Veröffentlichungsjahr
2016
Zustand
New
Einband
Hardback
Sprache
Englisch
ISBN-10
1848219369
ISBN-13
9781848219366
Artikelgewicht
612 Gramm

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