Neural Models and Algorithms for Digital Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 140)

Chadradhar, S.T.; Agrawal, Vishwani; Bushnell, M.

ISBN 10: 1461367670 ISBN 13: 9781461367673
Verlag: Springer, 2012
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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