New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-scale Ulsi Devices

Sprache: Englisch

Verlag: William Andrew Pub, 2013

0323241433 / 9780323241434

Serie: Buch 55 von 393 - Micro and Nano Technologies

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Titel
New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-scale Ulsi Devices
Autor
Zalevsky, Zeev/ Livshits, Pavel/ Gur, Eran
Verlag
William Andrew Pub
Veröffentlichungsjahr
2013
Zustand
Brand New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0323241433
ISBN-13
9780323241434
Artikelgewicht
0,2 Kilogramm
Serie
Buch 55 von 393: Micro and Nano Technologies

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