New Methods of Concurrent Checking

Sprache: Englisch

Verlag: SPRINGER NATURE Mai 2008, 2008

1402084196 / 9781402084195

Serie: Buch 20 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Computers are everywhere around us. We, for example, as air passengers, car drivers, laptop users with Internet connection, cell phone owners, hospital patients, inhabitants in the vicinity of a nuclear power station, students in a digital library or customers in a supermarket are dependent on their correct operation. Computers are incredibly fast, inexpensive and equipped with almost unimag- able large storage capacity. Up to 100 million transistors per chip are quite common today - a single transistor for each citizen of a large capital city in the world can be 2 easily accommodated on an ordinary chip. The size of such a chip is less than 1 cm . This is a fantastic achievement for an unbelievably low price. However, the very small and rapidly decreasing dimensions of the transistors and their connections over the years are also the reason for growing problems with reliability that will dramatically increase for the nano-technologies in the near future. Can we always trust computers Are computers always reliable Are chips suf- ciently tested with respect to all possible permanent faults if we buy them at a low price or have errors due to undetected permanent faults to be discovered by c- current checking Besides permanent faults, many temporary or transient faults are also to be expected. 182 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781402084195

Titel
New Methods of Concurrent Checking
Autor
Michael Gössel
Verlag
SPRINGER NATURE Mai 2008
Erscheinungsjahr
2008
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1402084196
ISBN-13
9781402084195
Artikelgewicht
419 Gramm
Abmessungen
244x167x20 mm
Serie
Buch 20 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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