Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses : Advanced Optical Interferometric Methods for Nanosecond Mapping of Semiconductor Devices under High Energy Pulses

Sprache: Englisch

Verlag: Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 2009

3838104048 / 9783838104041

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nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - For optimisation of devices and verification of device simulation models the knowledge of heat dissipation and of free carrier concentration in the device is essential. Non-destructive optical methods based on monitoring of the refractive index, absorption or light emission have previously been developed for investigation of transient temperature or free carrier changes. However, these methods suffer either from small spatial or time resolution. Therefore two testing techniques based on transient interferometric mapping have been developed within this thesis: a two-dimensional multiple-time-instant single-shot technique and a two-beam technique with sub-nanosecond time resolution.

Bestandsnummer des Verkäufers 9783838104041

Titel
Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses : Advanced Optical Interferometric Methods for Nanosecond Mapping of Semiconductor Devices under High Energy Pulses
Autor
Viktor Dubec
Verlag
Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften
Erscheinungsjahr
2009
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3838104048
ISBN-13
9783838104041
Artikelgewicht
256 Gramm
Abmessungen
220x150x11 mm

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