Passive and Active Measurement: 20th International Conference, Pam 2019, Puerto Varas, Chile, March 27-29, 2019, Proceedings

Sprache: Englisch

Verlag: Springer-Verlag New York Inc, 2019

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Titel
Passive and Active Measurement: 20th International Conference, Pam 2019, Puerto Varas, Chile, March 27-29, 2019, Proceedings
Autor
Choffnes, David (Editor)/ Barcellos, Marinho (Editor)
Verlag
Springer-Verlag New York Inc
Erscheinungsjahr
2019
Zustand
Brand New
Einband
Paperback
Sprache
Englisch
ISBN-10
303015985X
ISBN-13
9783030159856
Artikelgewicht
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