Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy : Probing the Traps in Field-Effect Transistors

Buch 33 von 151: SpringerBriefs in Physics

Im, Seongil; Chang, Youn-gyoung; Kim, Jae Hoon

ISBN 10: 9400763913 ISBN 13: 9789400763913
Verlag: Springer, 2013
Sprache: Englisch
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