Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects (Springer Series in Solid-State Sciences)

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2011

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Titel
Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects (Springer Series in Solid-State Sciences)
Autor
J. Bourgoin
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Erscheinungsjahr
2011
Zustand
Brand New
Einband
Paperback
Sprache
Englisch
ISBN-10
364281834X
ISBN-13
9783642818349
Artikelgewicht
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