Point Defects in Semiconductors and Insulators

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Jan 2003, 2003

3540426957 / 9783540426950

Serie: Buch 79 von 233 - Springer Series in Materials Science

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The precedent book with the title 'Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy' ap peared about 10 years ago. Since then a very active development has oc curred both with respect to the experimental methods and the theoretical interpretation of the experimental results. It would therefore not have been sufficient to simply publish a second edition of the precedent book with cor rections and a few additions. Furthermore the application of the multiple magnetic resonance methods has more and more shifted towards materials science and represents one of the important methods of materials analysis. Multiple magnetic resonances are used less now for 'fundamental' studies in solid state physics. Therefore a more 'pedestrian' access to the meth ods is called for to help the materials scientist to use them or to appreciate results obtained by using these methods. We have kept the two introduc tory chapters on conventional electron paramagnetic resonance (EPR) of the precedent book which are the base for the multiple resonance methods. The chapter on optical detection of EPR (ODEPR) was supplemented by sections on the structural information one can get from 'forbidden' transitions as well as on spatial correlations between defects in the so-called 'cross relaxation spectroscopy'. High-field ODEPR/ENDOR was also added. The chapter on stationary electron nuclear double resonance (ENDOR) was supplemented by the method of stochastic END OR developed a few years ago in Paderborn which is now also commercially available. 508 pp. Englisch. …

Bestandsnummer des Verkäufers 9783540426950

Titel
Point Defects in Semiconductors and Insulators
Autor
Johann-Martin Spaeth
Verlag
Springer Jan 2003
Erscheinungsjahr
2003
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540426957
ISBN-13
9783540426950
Artikelgewicht
870 Gramm
Abmessungen
241x160x32 mm
Serie
Buch 79 von 233: Springer Series in Materials Science

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