Positron Profilometry

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Palgrave Macmillan Sep 2023, 2023

3031410920 / 9783031410925

Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book provides a comprehensive overview of positron profilometry, specifically focusing on the analysis of defect depth distribution in materials. Positron profilometry plays a crucial role in understanding and characterizing defects in a wide range of materials, including metals, semiconductors, polymers, and ceramics. By analyzing the depth distribution of defects, researchers can gain insights into various material properties, such as crystal structure, defect density, and diffusion behavior. The author's extensive research spanning a period of two decades has primarily centered on subsurface zones. These regions, located beneath the surface and subjected to various surface processes, play a crucial role in generating defect distributions. Three experimental techniques and their data analysis are described in detail: a variable-energy positron beam (VEP) called sometimes a slow positron beam, a technique called implantation profile depth scanning (DSIP), and a sequential etching(SET) technique. The usability of these techniques is illustrated by many examples of measurements by the author and others.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 152 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783031410925

Titel
Positron Profilometry
Autor
Jerzy Dryzek
Verlag
Springer, Palgrave Macmillan Sep 2023
Erscheinungsjahr
2023
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3031410920
ISBN-13
9783031410925
Artikelgewicht
270 Gramm
Abmessungen
235x155x9 mm

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