Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Sep 2014, 2014

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices. 388 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781489983138

Titel
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Autor
Patrick Girard
Verlag
Springer US Sep 2014
Erscheinungsjahr
2014
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1489983139
ISBN-13
9781489983138
Artikelgewicht
587 Gramm
Abmessungen
235x155x21 mm

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