The Practice of TOF-SIMS

Sprache: Englisch

Verlag: Momentum Press Mär 2016, 2016

1606507737 / 9781606507735

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Time of flight secondary ion mass spectrometry, TOF-SIMS, is a highly surface sensitive analytical technique that provides information about composition with submicron lateral resolution. For select materials, TOF-SIMS provides unparalleled sensitivity along with excellent reproducibility, and as a mass spectrometric technique, it also provides excellent specificity. Of the analytical methods available, it is among the most surface sensitive, but the physical principles that underlie it are also the least understood. This volume describes the instrumentation, the physical principles behind the technique to the extent they are understood, and provides a practical approach for the interpretation of TOF-SIMS data. The use of advanced data processing methods such as multivariate statistics are described in a readily approachable manner. Given a basic background in undergraduate chemistry and physics, the book will be of use to any student with an interest in the technique. 192 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781606507735

Titel
The Practice of TOF-SIMS
Autor
Alan M. Spool
Verlag
Momentum Press Mär 2016
Erscheinungsjahr
2016
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1606507737
ISBN-13
9781606507735
Artikelgewicht
287 Gramm
Abmessungen
229x152x11 mm

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