Process Variation Tolerant VLSI Designs

Sprache: Englisch

Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing Dez 2014, 2014

3659648949 / 9783659648946

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Dynamic gates have been excellent choice in the design of high-performance modules in modern microprocessors. The only limitation of dynamic gates is their relatively low noise margin compared to that of standard CMOS gates. Traditionally, this issue has been resolved by employing a pMOS keeper circuit that compensates for leakage current of the pull-down nMOS network. In the earlier technology nodes, the keeper circuit could improve reliability of the dynamic gates with minor performance penalty. However, aggressive scaling trends of CMOS technology along with increasing levels of process variations have reduced effectiveness of the traditional keeper approach. This problem is more severe in wide fan-in dynamic gates due to the large number of leaky nMOS devices connected to the dynamic node. In this work a process variation tolerant wide fan-in dynamic OR gate with two new keeper designs is proposed which are capable of reducing the contention between the keeper and PDN and hence capable of reducing the power dissipation and delay. 80 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783659648946

Titel
Process Variation Tolerant VLSI Designs
Autor
Vikas Mahor
Verlag
LAP LAMBERT Academic Publishing Dez 2014
Erscheinungsjahr
2014
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3659648949
ISBN-13
9783659648946
Artikelgewicht
137 Gramm
Abmessungen
220x150x5 mm

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