Quantitative X-Ray Diffractometry

Sprache: Englisch

Verlag: Springer New York, Springer New York Dez 2011, 2011

1461395372 / 9781461395379

Serie: Buch 1 von 55 - Contributions to Political Science

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 396 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461395379

Titel
Quantitative X-Ray Diffractometry
Autor
Lev S. Zevin
Verlag
Springer New York, Springer New York Dez 2011
Veröffentlichungsjahr
2011
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461395372
ISBN-13
9781461395379
Artikelgewicht
681 Gramm
Abmessungen
244x170x22 mm
Serie
Buch 1 von 55: Contributions to Political Science

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