Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Stewart E. Rauch Timothy D. Sullivan Giuseppe La Rosa Jordi Sune Rolf?Peter Vollertsen Ernest Y. Wu Alvin W. Strong

ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Verlag: John Wiley & Sons, 2009
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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