Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies

Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch III, Stewart E.

ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Verlag: Wiley-IEEE Press, 2009
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

Verkauft von SMASS Sellers, IRVING, TX, USA

AbeBooks-Verkäufer seit 22. Februar 2022

Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen 4 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Neu - Hardcover

Zustand: Neu

Preis:
EUR 140,00
Versand gratis
Versand innerhalb von USA

Anzahl: 5 verfügbar

In den Warenkorb legen