Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development

Way Kuo; Wei-Ting Kary Chien; Taeho Kim

ISBN 10: 0792381076 ISBN 13: 9780792381075
Verlag: Springer, 1998
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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