Research for Practical Issues and Solutions in Computerized Multistage Testing

Yan, Duanli (EDT); Von Davier, Alina (EDT); Weiss, David (EDT)

ISBN 10: 036720780X ISBN 13: 9780367207809
Verlag: Routledge, 2024
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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