Risk Methodologies for Technological Legacies

Bley, Dennis C. (EDT); Droppo, James G. (EDT); Eremenko, Vitaly A. (EDT); Lundgren, Regina (EDT)

ISBN 10: 1402012586 ISBN 13: 9781402012587
Verlag: Springer, 2003
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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