Robust SRAM Designs and Analysis

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Jul 2012, 2012

1461408172 / 9781461408178

Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book provides a guide to Static Random Access Memory (SRAM) bitcell design and analysis to meet the nano-regime challenges for CMOS devices and emerging devices, such as Tunnel FETs. Since process variability is an ongoing challenge in large memory arrays, this book highlights the most popular SRAM bitcell topologies (benchmark circuits) that mitigate variability, along with exhaustive analysis. Experimental simulation setups are also included, which cover nano-regime challenges such as process variation, leakage and NBTI for SRAM design and analysis. Emphasis is placed throughout the book on the various trade-offs for achieving a best SRAM bitcell design.Provides a complete and concise introduction to SRAM bitcell design and analysis;Offers techniques to face nano-regime challenges such as process variation, leakage and NBTI for SRAM design and analysis;Includes simulation set-ups for extracting different design metrics for CMOS technology and emerging devices;Emphasizes different trade-offs for achieving the best possible SRAM bitcell design.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 180 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461408178

Titel
Robust SRAM Designs and Analysis
Autor
Jawar Singh
Verlag
Springer, Springer Jul 2012
Erscheinungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461408172
ISBN-13
9781461408178
Artikelgewicht
442 Gramm
Abmessungen
241x160x15 mm

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