Robust SRAM Designs and Analysis

Sprache: Englisch

Verlag: Springer-Verlag New York Inc., US, 2012

1461408172 / 9781461408178

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Artikelbeschreibung vom Verkäufer

This book provides a guide to Static Random Access Memory (SRAM) bitcell design and analysis to meet the nano-regime challenges for CMOS devices and emerging devices, such as Tunnel FETs. Since process variability is an ongoing challenge in large memory arrays, this book highlights the most popular SRAM bitcell topologies (benchmark circuits) that mitigate variability, along with exhaustive analysis. Experimental simulation setups are also included, which cover nano-regime challenges such as process variation, leakage and NBTI for SRAM design and analysis. Emphasis is placed throughout the book on the various trade-offs for achieving a best SRAM bitcell design.Provides a complete and concise introduction to SRAM bitcell design and analysis; Offers techniques to face nano-regime challenges such as process variation, leakage and NBTI for SRAM design and analysis;Includes simulation set-ups for extracting different design metrics for CMOS technology and emerging devices;Emphasizes different trade-offs for achieving the best possible SRAM bitcell design.…

Bestandsnummer des Verkäufers LU-9781461408178

Titel
Robust SRAM Designs and Analysis
Autor
Jawar Singh, Saraju P. Mohanty, Dhiraj K. Pradhan
Verlag
Springer-Verlag New York Inc., US
Veröffentlichungsjahr
2012
Zustand
New
Einband
Hardback
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461408172
ISBN-13
9781461408178
Ausgabe
2012.

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