SEM, EDAX & AFM study of ZnTe films deposited using SILAR method

Sprache: Englisch

Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing Mär 2014, 2014

3659258296 / 9783659258299

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In present book, AFM has been used to measure surface morphology. For microanalysis the scanning electron microscope (SEM) has been used. The scanning electron microscope (SEM), which is closely related to the electron probe, is designed primarily for producing electron images, but can also be used for elements mapping, and even point analysis.Scanning electron microscopes which are equipped with EDS (Energy Dispersed Spectroscopy) or EDAX (Energy-Dispersed Analysis of X-rays) detectors that capture the emitted X-ray is used for elemental analysis. The results, analysis and conclusions of ZnTe thin films deposited by SILAR method at various thicknesses and annealing temperatures have been carried out in detail and are presented in this book. 64 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9783659258299

Titel
SEM, EDAX & AFM study of ZnTe films deposited using SILAR method
Autor
Jignesh Rathod
Verlag
LAP LAMBERT Academic Publishing Mär 2014
Erscheinungsjahr
2014
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3659258296
ISBN-13
9783659258299
Artikelgewicht
113 Gramm
Abmessungen
220x150x4 mm

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