Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition

Linda Sawyer

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Sprache: Englisch

Verlag: Springer Us, 2003

0306472929 / 9780306472923

Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers. The emergence of the variab- pressure/environmental SEM has enabled the observation of samples c- taining water or other liquids or vapor and has allowed for an entirely new class of dynamic experiments, that of direct observation of che- cal reactions in situ. Critical advances in electron detector technology and computer-aided analysis have enabled structural (crystallographic) analysis of specimens at the micrometer scale through electron backscatter diffr- tion (EBSD). Low-voltage operation below 5 kV has improved x-ray spatial resolution by more than an order of magnitude and provided an effective route to minimizing sample charging. High-resolution imaging has cont- ued to develop with a more thorough understanding of how secondary el- trons are generated. The eld emission gun SEM, with its high brightness, advanced electron optics, which minimizes lens aberrations to yield an - fective nanometer-scale beam, and 'through-the-lens' detector to enhance the measurement of primary-beam-excited secondary electrons, has made high-resolution imaging the rule rather than the exception. Methods of x-ray analysis have evolved allowing for better measurement of specimens with complex morphology: multiple thin layers of different compositions, and rough specimens and particles. Digital mapping has transformed classic x-ray area scanning, a purely qualitative technique, into fully quantitative compositional mapping.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9780306472923

Titel
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition
Autor
Linda Sawyer
Verlag
Springer Us
Erscheinungsjahr
2003
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0306472929
ISBN-13
9780306472923
Auflage
3. Auflage
Artikelgewicht
1.701 Gramm
Abmessungen
263x187x34 mm

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