Scanning Probe Microscopy of Functional Materials

Sprache: Englisch

Verlag: Springer New York, Springer US Aug 2016, 2016

1493939475 / 9781493939473

Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The goal of this book is to provide a general overview of the rapidly developing field of novel scanning probe microscopy (SPM) techniques for characterization of a wide range of functional materials, including complex oxides, biopolymers, and semiconductors. Many recent advances in condensed matter physics and materials science, including transport mechanisms in carbon nanostructures and the role of disorder on high temperature superconductivity, would have been impossible without SPM. The unique aspect of SPM is its potential for imaging functional properties of materials as opposed to structural characterization by electron microscopy. Examples include electrical transport and magnetic, optical, and electromechanical properties. By bringing together critical reviews by leading researchers on the application of SPM to to the nanoscale characterization of functional materials properties, this book provides insight into fundamental and technological advances and future trends in key areas of nanoscience and nanotechnology.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 576 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781493939473

Titel
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials
Autor
Alexei Gruverman
Verlag
Springer New York, Springer US Aug 2016
Erscheinungsjahr
2016
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1493939475
ISBN-13
9781493939473
Artikelgewicht
861 Gramm
Abmessungen
235x155x31 mm

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