Secondary Ion Mass Spectrometry Sims V : Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, Dc, September 30 ? October 4, 1985
Benninghoven, Alfred (EDT); Colton, Richard J. (EDT); Simons, David S. (EDT); Werner, Helmut W. (EDT)
ISBN 10: 3642827268 ISBN 13: 9783642827266
Verlag: Springer, 2012
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Inhaltsangabe:
I Retrospective.- II Fundamentals.- III Symposium: Detection of Sputtered Neutrals.- IV Detection Limits and Quantification.- V Instrumentation.- VI Techniques Closely Related to SIMS.- VII Combined Techniques and Surface Studies.- VIII Ion Microscopy and Image Analysis.- IX Depth Profiling and Semiconductor Applications.- X Metallurgical Applications.- XI Biological Applications.- XII Geological Applications.- XIII Symposium: Particle-Induced Emission from Organics.- XIV Organic Applications Including Fast Atom Bombardment Mass Spectrometry.- Index of Contributors.
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Bibliografische Details
Titel: Secondary Ion Mass Spectrometry Sims V : ...
Verlag: Springer
Erscheinungsdatum: 2012
Einband: Softcover
Zustand: As New